SJ/T 10736-1996 半导体集成电路 HTL电路测试方法的基本原理
作者:标准资料网 时间:2024-05-11 21:21:44 浏览:9810
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基本信息
标准名称: | 半导体集成电路 HTL电路测试方法的基本原理 |
英文名称: | Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for HTL circuits |
中标分类: | 化工 >> 化工综合 >> 技术管理 |
替代情况: | 原标准号GB 3440-82 |
发布日期: | 1996-11-20 |
实施日期: | 1997-01-01 |
首发日期: | 1900-01-01 |
作废日期: | 2010-01-20 |
出版日期: | 1900-01-01 |
页数: | 16页 |
适用范围
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前言
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目录
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引用标准
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所属分类: 化工 化工综合 技术管理
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